作者的详细信息
Волковский, Ю. А.
| 期 | 栏目 | 标题 | 文件 |
| 卷 68, 编号 2 (2023) | ДИФРАКЦИЯ И РАССЕЯНИЕ ИОНИЗИРУЮЩИХ ИЗЛУЧЕНИЙ | COMPARATIVE X-RAY DIFFRACTOMETRY OF THE DEFECT STRUCTURE OF ZnO EPITAXIAL FILMS DEPOSITED BY MAGNETRON SPUTTERING ON C-PLANE Al2O3 SUBSTRATES IN INHOMOGENEOUS ELECTRIC FIELD | |
| 卷 68, 编号 1 (2023) | ДИФРАКЦИЯ И РАССЕЯНИЕ ИОНИЗИРУЮЩИХ ИЗЛУЧЕНИЙ | A New Method for Determining the Size of a Synchrotron Radiation Beam in the Focus of a Compound Refractive Lens | |
| 卷 68, 编号 1 (2023) | ПОВЕРХНОСТЬ, ТОНКИЕ ПЛЕНКИ | DEVELOPMENT OF X-RAY METHODS FOR STUDYING PROTEIN PLANAR SYSTEMS ON A LIQUID SURFACE USING SYNCHROTRON RADIATION | |
| 卷 69, 编号 6 (2024) | ДИФРАКЦИЯ И РАССЕЯНИЕ ИОНИЗИРУЮЩИХ ИЗЛУЧЕНИЙ | Experimental Study of the Method of X-ray Phase-Contrast Microscopy Using a Nanofocusing Lens at KISI-Kurchatov synchrotron source | |
| 卷 70, 编号 5 (2025) | ДИФРАКЦИЯ И РАССЕЯНИЕ ИОНИЗИРУЮЩИХ ИЗЛУЧЕНИЙ | A new method of phase-contrast microscopy of microobjects using a nanofocusing lens in synchrotron radiation |