Автор туралы ақпарат
Ladyanov, V. I.
| Шығарылым | Бөлім | Атауы | Файл |
| № 2 (2024) | Articles | Electron Microscopic Analysis of the Nb5Si3/NBC/NbSi2 Composite Structure |
Пайдаланушы
Жазылу
Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер
X-ray diffraction
X-ray photoelectron spectroscopy
deformation
electron microscopy
electronic structure
ion implantation
irradiation
magnetron sputtering
microstructure
nanoparticles
neutron reflectometry
phase composition
scanning electron microscopy
silicon
structure
surface
surface modification
surface morphology
synchrotron radiation
thin films
zinc oxide
Ағымдағы шығарылым
№ 1 (2025)
×
Пайдаланушы
Жазылу
Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер
X-ray diffraction
X-ray photoelectron spectroscopy
deformation
electron microscopy
electronic structure
ion implantation
irradiation
magnetron sputtering
microstructure
nanoparticles
neutron reflectometry
phase composition
scanning electron microscopy
silicon
structure
surface
surface modification
surface morphology
synchrotron radiation
thin films
zinc oxide
Ағымдағы шығарылым